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半导体静态参数测试仪igbt|SiC器件测试设备
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PMST系列半导体静态参数测试仪igbt|SiC器件测试设备是武汉普赛斯正向设计、精益打造的高精密电压/电流测试分析系统,是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统,具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势,旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试,并具有优秀的测量效率、一致性与可靠性。让任何工程师使用它都能变成行业专家。详询18140663476


产品特点

1、高电压、大电流

具有高电压测量/输出能力,电压高达3500V(蕞大可扩展至10kV)

具有大电流测量/输出能力,电流高达6000A(多模块并联)


2、高精度测量

nA级漏电流,μΩ级导通电阻 

0.1%精度测量 

四线制测试


3、模块化配置

可根据实际测试需要灵活配置多种测量单元

系统预留升级空间,后期可添加或升级测量单元


4、测试效率高

内置专用开关矩阵,根据测试项目自动切换电路与测量单元 

支持国标全指标的一键测试


5、软件功能丰富

上位机自带器件标准参数测试项目模板,可直接调取使用

支持曲线绘制

自动保存测试数据,并支持EXCEL格式导出

开放的标准SCPI指令集,可与第三方系统集成


6、扩展性好

支持常温及低温、高温测试

可灵活定制各种夹具

可与探针台,温箱等第三方设备联动使用



联系我时,请说是在分类信息网看到的,谢谢!

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